我院王偉征副教授論文被國際頂級期刊錄用
發(fā)布時間: 2020-11-09 11:23:21 瀏覽量:
2020年10月29日，計算機與通信工程學(xué)院王偉征副教授以長沙理工大學(xué)作為第一作者單位的論文被《IEEE Transactions on Systems, Man and Cybernetics: Systems》期刊錄用。該期刊由美國電氣和電子工程師協(xié)會發(fā)行，是自動化與控制系統(tǒng)和計算機科學(xué)領(lǐng)域的頂級期刊，近幾年該期刊影響力不斷上升，2020年最新影響因子達到了9.309，為JCR一區(qū)top期刊，在所有SCI期刊中影響因子排名前3.5%。
該論文“Ensuring Cryptography Chips Security by Preventing Scan-Based Side-Channel Attacks with Improved DFT Architecture”主要研究抗掃描攻擊的加密芯片可測性設(shè)計結(jié)構(gòu)。加密芯片應(yīng)用非常廣泛，其必須經(jīng)過嚴格的測試，以保證加密和解密的正確性。掃描設(shè)計是一種常用的可測試設(shè)計（Design For Testability, DFT)技術(shù)，極大提高了測試質(zhì)量，但也為黑客竊取密鑰開啟了后門。本文提出了一種新的掃描設(shè)計方案，在保證測試質(zhì)量的前提下提高了芯片的安全性。當(dāng)芯片進入測試模式時，需要通過一些外部輸入端口輸入測試密碼（包括加載密碼和掃描密碼）。一旦輸入了正確的加載密碼，掃描密碼就可以加載到一個特殊的移位寄存器中；如果掃描密碼也正確，芯片測試可以正常進行。否則，由掃描密碼中的不匹配位控制的掃描觸發(fā)器將把虛假值傳播到后續(xù)的掃描觸發(fā)器中。該方案通過對掃描輸入數(shù)據(jù)和掃描輸出數(shù)據(jù)的動態(tài)混淆實現(xiàn)了抵抗基于掃描的側(cè)信道攻擊的目的。與同類方案相比本文方案的優(yōu)點是，不但能夠?qū)用苄酒峁娪辛Φ谋Ｗo，而且不會對芯片性能和測試流程產(chǎn)生任何負面影響，硬件開銷也非常之低。
